Tartalom
A transzmissziós elektronmikroszkóp (TEM) és a pásztázó elektronmikroszkóp (SEM) mikroszkópos módszer rendkívül kicsi minták megtekintésére. A TEM és a SEM összehasonlítható a mintavételi módszerekkel és az egyes technológiák alkalmazásaival.
TEM
Mindkét típusú elektronmikroszkóp bombázza a mintát elektronokkal. A TEM alkalmas tárgyak belsejének tanulmányozására. A festés kontrasztot ad, a vágás pedig ultravékony mintákat biztosít a vizsgálathoz. A TEM kiválóan alkalmas vírusok, sejtek és szövetek vizsgálatára.
SEM
A SEM által megvizsgált mintákhoz olyan vezetőképes bevonat szükséges, mint például arany-palládium, szén vagy platina, hogy összegyűjtsék az elektronfelesleget, amely eltakarja a képet. A SEM alkalmas objektumok, például makromolekuláris aggregátumok és szövetek felületének megfigyelésére.
TEM folyamat
Az elektronpisztoly elektronkoncentrációt hoz létre, amelyet a kondenzátor lencséje fókuszál. A kondenzált nyalábot és az átadott elektronokat egy objektív lencse fókuszált képernyõn fókuszálja. A kép sötétebb területei azt jelzik, hogy kevesebb elektron került átvitelre, és hogy ezek a területek vastagabbak.
SEM folyamat
A TEM-hez hasonlóan, egy elektronnyaláb lencsével állít elő és kondenzál. Ez egy kurzuslencse a SEM-en. Egy második lencse szűk, vékony sugárvá alakítja az elektronokat. Egy tekercskészlet a sugárzást a televízióhoz hasonlóan vizsgálja. Egy harmadik lencse irányítja a fényt a minta kívánt szakaszába. A sugár egy meghatározott ponton lakhat. A nyaláb másodpercenként 30-szor képes letapogatni az egész mintát.